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國立雲林科技大學 機械工程系 何昭慶所指導 陳柏岐的 以機器視覺為基礎之表面缺陷檢測系統 (2013),提出超薄燈箱關鍵因素是什麼,來自於機器視覺、光源系統、瑕疵檢測、表面瑕疵分類、傅立葉轉換、影像形態學。

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接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了超薄燈箱,大家也想知道這些:

以機器視覺為基礎之表面缺陷檢測系統

為了解決超薄燈箱的問題,作者陳柏岐 這樣論述:

本論文以機器視覺為基礎,設計環境光源並使用攝影機取像,針對檢測物上不同的瑕疵,分別於空間域(Spatial domain)以及頻率域(Frequency domain),進行待測物的缺陷檢測。在空間域使用的檢測方法,採用影像形態學(Morphology)中的侵蝕演算法(Erode)及膨脹演算法(Dilate),將不同演算法所得到的結果,透過數學邏輯的運算,保留影像的特徵。為了突顯空間域的瑕疵影像,本論文藉由線雷射結構光源的輔助,將結構光源照射在檢測物的表面,利用線雷射因為待測物表面高低起伏而變化的影像,輔助瑕疵的檢測。影像形態學的檢測方法,可以快速的檢測影像中的輪廓瑕疵,但是對於具有方向性、

細長的表面刮痕,卻容易因為二值化影像處理的閥值選擇不當,影響形態學的結果,降低瑕疵判斷的準確性。因此,本論文將空間域較難判定的表面瑕疵缺陷,利用傅立葉轉換(Fourier transform),將影像從二維的空間域轉換到頻率域,採用統計學中的標準差(Standard deviation)計算方法,先將攝影機取得的兩種表面瑕疵:表面刮痕瑕疵以及表面粗糙瑕疵的影像,進行傅立葉轉換得到傅立葉頻譜,並將傅立葉頻譜區分成20個等分,計算每個等分內的灰度值變化標準差,並且將標準差較大的等分進行傅立葉反轉換,藉此證明本論文所擷取到的影像,在傅立葉頻譜上灰度值變化較大的區域,為影像中的紋路特徵。經過證明之後,

本論文將傅立葉頻譜進行二值化影像處理,保留頻譜中灰度值較高的部分,再利用傅立葉反轉換(Inverse Fourier transform),將頻譜中灰度值較高的部分,從頻率域轉換回空間域,依據這些頻率在空間域中所占有的面積大小,區分刮痕的種類。為了要有效的利用傅立葉轉換,將轉換後的頻譜作為判斷瑕疵種類依據,因此需要在影像中突顯表面的瑕疵缺陷。本論文選用波長較短、較容易產生散射現象的藍色光源,利用藍光照射在不平滑的表面時,會因為散射現象改變光線的直線軌跡,藉此取得表面紋路的原始影像。本論文所設計的光源環境,以線雷射結構光源及背向光源組合的打光系統,在空間域上採用形態學的侵蝕及膨脹演算法,進行輪胎

三角膠的外輪廓缺陷檢測,及輪胎三角膠結合處的斷差檢測。以白色及藍色的面向光源組合成特殊的打光燈具,在空間域及頻率域上,分別進行電磁閥的上蓋卡榫檢測,及電磁閥表面的瑕疵檢測。