XMAX的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列各種有用的問答集和懶人包

XMAX進入發燒排行的影片

利用雙線性反饋移位暫存器達到低功耗內嵌式自我測試

為了解決XMAX的問題，作者殷仁政 這樣論述：

儘管線性反饋移位暫存器 (LFSR reseeding) 架構是一種用於測試資料量壓縮的有效方法，但它可能會導致功率消耗過大。在本論文中，一開始我們描述了一種基於LFSR reseeding的壓縮方法，該方法也使用兩個LFSR來生成壓縮的測試資料，同時減少在掃描移位操作期間發生的不必要位元切換。以下是說明本論文提出的三種方法。首先，我們所提出的雙線性反饋移位暫存器架構中，第一個LFSR稱為selection LFSR，另一LFSR則稱為compensation LFSR。儘管我們提出的dual LFSR reseeding方法需要用到兩個LFSR，但是與傳統的單一LFSR方法相比，可以透過犧

牲一些壓縮效果來實現顯著的功耗降低。此外，所提出的方法所指定的位元數遠小於過去dual LFSR相關的方法，所需的LFSR長度和seed長度都比過去的方法更小。其次，我們提出的另一種方法，也是使用兩個不同的LFSR並行運行以生成用於AND/OR組合電路的一對來源測試樣式，這一對獨立隨機的測試樣式經由AND/OR組合電路運算後，都具有比原始測試樣式低25％的位元切換機率。在基於掃描的測試過程中，過多的功率消耗始終是VLSI設計面臨的嚴峻挑戰。有許多研究的發表是透過關閉部份不使用的子掃描鏈的方法，藉此來達到減少功率消耗的效果。因此至關重要的是要識別出觀察細胞將它們都集中 (cluster) 在某些

子掃描鏈中，或是將那些較不常使用到的掃描細胞都集中到某些子掃描鏈中。在本論文中，我們將掃描鏈集中與停止的技術相結合，以達到在抓取週期中將停止掃描鏈的數量最大化的效果。