紅外線溫度計校正的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列各種有用的問答集和懶人包

非破壞檢測診斷應用系統之研究

為了解決紅外線溫度計校正的問題，作者李永翔 這樣論述：

　　目前有關紅外線熱像資料的相關研究中，一直無法正確有效的取得標的物之正確溫度，一般的應用均著重於熱像的比較，導致相關應用受到相當的限制。另一方面，國內半導體的生產品質管制的部份中，傳統使用ATE(automatic test equipment)設備來作電子元件偵測與錯誤分析，不但耗費資源時間，而且於生產線的良率狀況並無一有效率的資訊處理系統。本研究擬利用黑體輻射作為參考溫度，以統計方法分析實驗資料，建立一套測溫分析模組，並以實作系統進行驗證。 實作的結果中，針對紅藍光LED樣品作實際的測溫，發現藍光LED在相同條件下，其輻射熱較紅光低。模型採用取樣標準熱源溫度

所建立的溫度-灰階關係，可應用於高低溫的溫度環境中，同時測溫模組對溫度推估的誤差範圍於1~0.04℃間。 在未來的展望上，使用紅外線熱像系統進行非破壞檢測的應用，可拓展本研究的架構，應用於電子相關產業(主機板、界面卡、IC元件)、電氣系統、醫療工程、建築工程檢測方面的應用。